Near-field microscopy
- Mittels Infrarot-Nahfeldmikroskopie (SNIM) konnten in dieser Arbeit lokale Spektren von Plasmananopartikeln aufgenommen werden und verschiedene Dotierungen von Silizium dargestellt werden. Im ersten Teil wurden verschiedene Dotierungen (Gallium, Phosphore, Kupfer) von Silizium mittles Raman-, FTIR- Elektronen-, AFM-, SNIM durchzuführen und damit die Kontrasterzeugung bei der Nahfeldmikroskopie besser zu verstehen. Im zweiten Teil gelang es ein Infrarotspektrum von polymereähnlichen und diamantähnlichen Nanopartikeln aufzunehmen. Durch die unterschiedliche Absorption von den zwei Teilchensorten gelang es, diese zu unterscheiden. Es wurde damit erstmals eine physikalische Eigenschaft (Absorption) eines einzelnen Nanopartikels gemessen.
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| Author: | Jean-Sébastien SamsonGND |
|---|---|
| URN: | urn:nbn:de:hbz:294-24477 |
| Subtitle (English): | characterization of A-C:H:N particles and doped silicon with near-field microscopy |
| Referee: | Martina HavenithORCiDGND, Jörg WinterGND |
| Document Type: | Doctoral Thesis |
| Language: | English |
| Date of Publication (online): | 2009/02/06 |
| Date of first Publication: | 2009/02/06 |
| Publishing Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek |
| Granting Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Fakultät für Chemie und Biochemie |
| Date of final exam: | 2008/10/27 |
| Creating Corporation: | Fakultät für Chemie und Biochemie |
| GND-Keyword: | Dotierung; Plasma; Nanopartikel; Spektroskopie; Mikroskopie |
| Institutes/Facilities: | Lehrstuhl für Physikalische Chemie II |
| Dewey Decimal Classification: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie, Kristallographie, Mineralogie |
| faculties: | Fakultät für Chemie und Biochemie |
| Licence (German): |  Keine Creative Commons Lizenz - es gelten der Veröffentlichungsvertrag und das deutsche Urheberrecht |
