Optical Feedback
- Die Wechselwirkung von starken Rückreflexen mit GaAs-basierenden Hochleistungslaserdioden wurde untersucht. Insbesondere wurden die Zerstörschwelle und die Veränderung der opto-elektrischen Eigenschaften bei unterschiedlichen Belastungen betrachtet. Zur Quantifizierung der Rückreflex-Leistung am Ort des Emitters wurde ein paraxiales Strahlmodell entwickelt. Durch Langzeitversuche und eine Analyse der Halbleiter konnten ein Zusammenhang zwischen einer reduzierten Lebensdauer und Halbleiterdefekten gefunden werden. Das Defektwachstum ließ sich außerdem durch seine Position im Halbleiter charakterisieren. Die Ausbreitung der Halbleiterdefekte spiegelte sich auch in den Veränderungen der opto-elektrischen Eigenschaften der Laserdiode wider. Diese Arbeit liefert Erkenntnisse, die für einen effektiven Schutz von Lasersystemen im industriellen Einsatz zur Erhöhung ihrer Robustheit und Zuverlässigkeit genutzt werden können.
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| Author: | Dennis BonsendorfGND |
|---|---|
| URN: | urn:nbn:de:hbz:294-48092 |
| Subtitle (German): | Laserdioden-Systeme mit Rückreflexen |
| Referee: | Andreas OstendorfORCiDGND, Reinhart PopraweGND |
| Document Type: | Doctoral Thesis |
| Language: | German |
| Date of Publication (online): | 2016/04/26 |
| Date of first Publication: | 2016/04/26 |
| Publishing Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Universitätsbibliothek |
| Granting Institution: | Ruhr-Universität Bochum, Fakultät für Maschinenbau |
| Date of final exam: | 2016/02/05 |
| Creating Corporation: | Fakultät für Maschinenbau |
| GND-Keyword: | Laserdiode; Halbleiter; Lebensdauer; Degradation; Quantifizierung |
| Institutes/Facilities: | Lehrstuhl für Laseranwendungstechnik |
| Dewey Decimal Classification: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften, Maschinenbau |
| faculties: | Fakultät für Maschinenbau |
| Licence (German): |  Keine Creative Commons Lizenz - es gelten der Veröffentlichungsvertrag und das deutsche Urheberrecht |
